高頻雷達(dá)物位計(jì) 導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì) 80g雷達(dá)物位計(jì) 集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售一體化物位計(jì)企業(yè)
雷達(dá)物位計(jì)的基本原理是將點(diǎn)狀無線電波發(fā)射到整體待測(cè)目標(biāo)上,然后無線電波會(huì)打在物質(zhì)反射面上回家,從而精確測(cè)量實(shí)際液體位置。因此,儀器能否成功傳輸點(diǎn)電信號(hào)顯得非常重要。然而,在人們的日常工作中,數(shù)據(jù)信號(hào)總是受到干擾。今天,人們將分析損害數(shù)據(jù)信號(hào)的干擾源通常是什么。
對(duì)于雷達(dá)物位計(jì)的數(shù)據(jù)信號(hào),造成干擾的原因很多,干擾源也多種多樣,但從大的角度來看,可以分為兩類,一類是內(nèi)部干擾,一類是外部干擾。
第一,外部干擾
1.星體和天電干擾干擾
最先什么是天體干擾呢?星體是指太陽光或其他恒星,所以恒星的干擾是指它們發(fā)射的無線電波對(duì)雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射的數(shù)據(jù)信號(hào)造成必要的干擾。針對(duì)天電大伙兒肯都覺得很陌生人,說白了,人們一般理解為空氣、閃電等天氣現(xiàn)象引起的無線電波,或者活火山、地震災(zāi)害等天氣現(xiàn)象對(duì)雷達(dá)物位計(jì)數(shù)據(jù)信號(hào)的干擾。
2、機(jī)械設(shè)備干擾
說白了,機(jī)械設(shè)備干擾是指雷達(dá)物位計(jì)受到外部設(shè)備的大規(guī)模振動(dòng)或沖擊的傷害,導(dǎo)致雷達(dá)物位計(jì)中的一些部件振動(dòng)甚至移動(dòng)變形,也會(huì)造成儀表盤頭部精確測(cè)量出現(xiàn)偏差。針對(duì)這種情況,人們一般通過各種擋板和阻尼彈簧來減小沖擊。
3.環(huán)境濕度干擾
當(dāng)環(huán)境濕度升高時(shí),會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)體和絕緣體電阻減小,介電常數(shù)增大,骨架圖擴(kuò)大,電阻增大,從而導(dǎo)致漏電流、電容、電感線圈變換等增大。此外,膠原纖維會(huì)變得松散,精確測(cè)量的精度也會(huì)降低。
4.有機(jī)化學(xué)干擾
有機(jī)化學(xué)干擾是指一些腐蝕性蒸汽,如酸、堿等。這種蒸汽的長(zhǎng)期作用不僅會(huì)破壞儀器和內(nèi)部部件,還會(huì)與金屬材料導(dǎo)電,危及雷達(dá)物位計(jì)的所有正常工作。
5.熱干擾
在電廠運(yùn)行過程中,熱力設(shè)備會(huì)產(chǎn)生大量熱量,導(dǎo)致周圍儀表及其工作溫度的變化。也就是說,人們常說的熱干擾對(duì)雷達(dá)物位計(jì)的部件是有害的,加深造成測(cè)量不準(zhǔn)確的問題。
6.光干涉
光的干涉取決于半導(dǎo)體元件。很多用來操作儀器的元件都是用半導(dǎo)體器件制成的,半導(dǎo)體元件暴露在光線下,電導(dǎo)率會(huì)發(fā)生變化。同時(shí),雷達(dá)物位計(jì)的所有正常應(yīng)用都將受到威脅。
第二,內(nèi)部干擾
干擾不僅來自外部,也來自雷達(dá)物位計(jì)內(nèi)部,如環(huán)形變壓器電子元件中間的傳輸線、電感和電容引起的干擾,此外,內(nèi)部元件也會(huì)引起噪聲干擾。現(xiàn)在大部分雷達(dá)物位計(jì)剛剛開始改進(jìn),選擇了高頻微波技術(shù),大大改善了物位計(jì)的特性,減少了干擾。
也就是說,人們討論了雷達(dá)物位計(jì)的數(shù)據(jù)信號(hào)會(huì)受到干擾的一些情況。當(dāng)人們安裝或使用雷達(dá)物位計(jì)時(shí),他們也可以根據(jù)上面列出的條件分析您的應(yīng)用自然環(huán)境是否會(huì)對(duì)物位計(jì)造成這種干擾。如果出現(xiàn)這種情況,那么一定要采取抗干擾對(duì)策,保證物位計(jì)能更好的為您服務(wù)。