高頻雷達(dá)物位計(jì) 導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì) 80g雷達(dá)物位計(jì) 集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售一體化物位計(jì)企業(yè)
雷達(dá)物位計(jì)和超聲波物位計(jì)是測量物位的兩種重要儀表,廣泛用于化工廠、食品加工廠、建材廠、原料廠等工廠內(nèi)各種罐體、料倉、水池的連續(xù)物位測量中,對工業(yè)過程進(jìn)行監(jiān)控。因二者功能相似,常被相互替換。事實(shí)上,二者在應(yīng)用場合的界限劃分并不明確。為幫助用戶對二者更好地區(qū)分,本文就雷達(dá)物位計(jì)和超聲波物位計(jì)的不同原理與選用介紹如下。
一、兩種物位計(jì)的不同原理
1、雷達(dá)物位計(jì)
按工作方式劃分,雷達(dá)物位計(jì)主要分為脈沖式和連續(xù)調(diào)頻式兩種。
脈沖式雷達(dá)物位計(jì)采用微波的原理(發(fā)射→反射→接收),由天線發(fā)射出的電磁波信號,并在被測物料表面產(chǎn)生反射,反射的回波信號被雷達(dá)物位計(jì)接收,再計(jì)算出發(fā)射至接收的行程時間。
連續(xù)調(diào)頻式雷達(dá)物位計(jì)的工作原理與脈沖式不同,電磁波信號被液面反射后,被同一天線接收,再基于快速傅里葉(FFT)變換的技術(shù)原理,將時域中不同頻率的信號轉(zhuǎn)變成頻域中的頻譜,根據(jù)發(fā)射信號和回波信號之間的頻率差與到介質(zhì)表面的距離成正比,計(jì)算出天線到物料表面的距離。
2、超聲波物位計(jì)
與脈沖式雷達(dá)物位計(jì)類似,超聲波物位計(jì)也是利用回波的反射原理,來測量物位的高度,二者的唯一區(qū)別為雷達(dá)物位計(jì)采用的是電磁波,無需傳播介質(zhì),但是超聲波物位計(jì)采用的是機(jī)械波,其必須借助一定介質(zhì)才能進(jìn)行傳播,所以當(dāng)介質(zhì)的壓力、溫度、密度、濕度等條件恒定時,超聲波在介質(zhì)中的傳播速度是一個常數(shù)。
二、兩種物位計(jì)的選擇應(yīng)用
超聲波物位計(jì)因其聲波的傳播速度與傳播介質(zhì)的溫度、壓力以及被測介質(zhì)的特性等關(guān)系密切,一般用于較為穩(wěn)定的工況下的物位測量;而雷達(dá)物位計(jì)選型要綜合考慮介質(zhì)的介電常數(shù)、料倉高度、物料形態(tài)及穩(wěn)定性等因素,從而確定其微波頻率、波束角以及天線型式。
?。?)介電常數(shù)
由于電磁波的衰減系數(shù)與介質(zhì)的介電常數(shù)的平方根成反比,因此,被測介質(zhì)的介電常數(shù)越大,電磁波的衰減越少,物位計(jì)接收到的反射信號也就越強(qiáng),在該情況下測量物位,選用雷達(dá)物位計(jì)來更為適合。
?。?)測量范圍
與雷達(dá)物位計(jì)相比,超聲波物位計(jì)的測量量程要短,一般不超15m。因此,在大型或超大型的儲罐、塔槽、鍋爐等設(shè)備的應(yīng)用場合,雷達(dá)物位計(jì)更為適合。
?。?)產(chǎn)品特性
由于溫度和壓力對超聲波物位計(jì)的測量影響較大,一般不可用于壓力較高或負(fù)壓的場合,所以超聲波物位計(jì)多用于常壓容器。而雷達(dá)物位計(jì)受溫度和壓力的影響不大,可以用在高溫、高壓工況下應(yīng)用。這是因?yàn)闄C(jī)械波易受傳播介質(zhì)的影響,能量衰減也相對較大,在氣態(tài)或者不均勻介質(zhì)中表現(xiàn)也更為明顯。
電磁波的傳播性較超聲波要強(qiáng),因此雷達(dá)物位計(jì)的可使用量程范圍也比超聲波要大,持別現(xiàn)在采用高頻和連續(xù)調(diào)頻技術(shù),使得其量程范圍進(jìn)一步增大。
雷達(dá)物位計(jì)對環(huán)境和介質(zhì)本身產(chǎn)生的擾動分辨能力更強(qiáng),也能夠更好地消除干擾,使得其能更好地保證測量精度。也正是因?yàn)槔走_(dá)物位計(jì)的測量范圍更寬廣,精度更高,采用的測量技術(shù)與儀表構(gòu)造更為高端、復(fù)雜,因此在價格上雷達(dá)物位計(jì)比超聲波物位計(jì)更貴,不少用戶出于成本考慮,多選用超聲波物位計(jì)替代雷達(dá)物位計(jì)。
(4)物料形態(tài)及穩(wěn)定性
當(dāng)物料為固體或粉末狀態(tài)時,由于折射、漫散射等影響,使有效的回波減少,雜波干擾增加,這種情況下,不建議選用超聲波物位計(jì)。但當(dāng)測量表面會發(fā)生波動時,選用雷達(dá)物位計(jì)也存在有效回波檢測困難的問題。